ПРИМЕНЕНИЕ
X-Art M - анализатор широкого назначения для определения химического состава различных объектов, включая произведения искусства. На открытом воздухе элементы от Mg (Z=12) до U (Z=92) анализируются одновременно. Толщина кристалла детектора от 3 до 5 мм обеспечивает высокую эффективность регистрации, таким образом, все тяжелые элементы в принципе могут быть проанализированы по K-сериям флуоресцентных линий.
СВОЙСТВА
-
недеструктивный on-line контроль состава материала непосредственно на поверхности объектов (качественный и количественный анализ),
-
произвольная ориентация аналитического блока в пространстве,
-
минимальное расстояние от поверхности образца до окна детектора, которое обеспечивает эффективный анализ легких элементов,
-
простое и удобное управление и обслуживание.
Опции:
СПЕЦИФИКАЦИЯ
|
Параметр |
Значение |
|
Локальность анализа |
Размер пятна на поверхности объекта от 0,1 до 12 мм |
|
Источник возбуждения |
Рентгеновская трубка, Ag или Rh анод, напряжение до 50 кВ, ток до 1 мА |
|
Фильтрация излучения |
Набор сменных фильтров для оптимизации возбуждения определенных элементов |
|
Коллимация |
Сменные диафрагмы различного диаметра для анализа малых площадей образца |
|
Тип детектора |
Si(Li) детектор, охлаждаемый пельте-кулером |
|
Масса аналитического блока |
12 кг |
|
Интерфейс |
Пакет программного обеспечения, совместимый с PC и Notebook |
|
Блок питания |
220/110 В, 50/60 Гц или 12 В (по заказу) |
|
Потребление энергии |
140 Вт |
По всем вопросам пишите на электронный адрес: alexs@comita.ru.
* Производится в кооперации с ЗАО Комита, Санкт-Петербург, Россия