НАЗНАЧЕНИЕ
Многоканальный анализатор толщины покрытий в режиме реального времени предназначен для измерения толщины покрытий различных покрытий с использованием методов рентгено-флюоресцентного анализа и способен определять толщину покрытий для различных материалов от Mg до U. Система предназначена для применения в металлургической промышленности, и для решения задач других отраслей.
ОСОБЕННОСТИ
-
автоматический выбор метода расчета толщины покрытий для оптимизации относительной ошибки измерений,
-
удаленное управление электроникой анализатора и программным обеспечением с рабочей станции используя интерфейс ETHERNET и связь с OPC сервером,
-
автоматическое создание библиотечных констант для измеренных результатов,
-
очень простые и удобные управление и обслуживание,
-
возможность установить измерительный блок под или над измеряемым материалом,
-
встроенный индустриальный компьютер.
ХАРАКТЕРИСТИКИ
|
Параметры |
Значения |
|
Материал основания |
металлический или неметаллический материал |
|
Материалы покрытия |
элементы от Mg до U, их соединения |
|
Диапазон измеряемых толщин покрытий Al, Ti, Ti02, на нержавеющей стали, нм |
50 - 30000 |
|
Диапазон измеряемых толщин покрытий Cu, Zn, Ni на нержавеющей стали, нм |
5 - 5000 |
|
Диапазон измеряемых толщин покрытий Au на основе, нм |
2 - 3000 |
|
Относительная ошибка при времени измерения 5 сек, % |
1…10 |
|
Рабочий диапазон температур, °C: |
+ 5 to +40 |
|
Источник излучения: |
Рентгеновская трубка (Mo, Rh, Ag и др.) |
|
Тип детектора: |
SDD детектор |
|
Источник питания (50/60 Гц), В: |
230; 380 |
Для дополнительной информации, пожалуйста свяжитесь с нами по адресу: XRF@bsi.lv
